Лабораторија за наноматеријали


Опременост





     Лабораторијата за наноматеријали располага со нов, софистициран микроскоп со ске­нирачка сонда кој е набавен со финансиска подршка на Владата на Р. Македонија во рам­ките на проектот за опремување на научно-истражувачки лаборатории. Станува збор за еден од последните модели на микроскопи со скенирачка сонда – SPM 9600, произведен од Schimadzu, кој ни овозможува да ги изучуваме површините на нашите системи со помош на две техники: скенирачка тунелирачка микроскопија (STM) и микроскопија темелена на атомски сили (AFM). Овие техники, се вбројуваат во клучните алатки за изучување на наноматеријалите и всушност истражувањата во областа на наноматеријалите се интизи­вираат после патентирањето токму на овие две техники (прво STM, а потоа и AFM).


Можности за анализа

     Лабораторијата за наноматеријали и­ма­ ис­тра­жувачки, но и потенцијално апликативен карактер. Со помош на опремата која е набавена за оваа лабораторија може да се изучу­ва површинската морфологија, како и својствата на површините на испитуваните приме­­­ро­ци т.е. да се ге­не­ри­ра тро­­­ди­мензионална слика на површината на примерокот со многу висока ре­зо­лу­ци­ја. Скенирачката ту­не­ли­рачка микроскопија (STM) има лимитирана при­­мена во однос на природата на примерокот. Со помош на оваа техника може да се изучу­­ваат спроводливи примероци, но и покрај ограничената при­ме­­­на, STM и понатаму претста­­вува моќна а­лат­ка која наоѓа голема примена за ка­рак­­­­теризација, како и за фундаментал­­ни студии на по­вршините на металите и по­лу­­­­спроводниците. За разлика од STM, со помош на AFM можe да се испитуваат различни ви­до­­­ви при­­­­мероци (од многу тврди површини како, на пример, керамички материјали до многу ме­­ки материјали како, на пример, поли­­мери, понатаму диспергирани ме­­тал­ни на­но­чес­ти­чки, биолошки важни материјали: проте­­ини, клетки, ин­ди­ви­ду­ал­­ни мо­лекули на ДНК итн.) со висока резолуција и точност.

     Освен за морфолошка карактеризација, AFM и STM може да се користат за дизајни­­­рање на површините на нано-скала, AFM може да се користи за изучување на силите на ин­­­теракција меѓу одреден објект, нанесен на површината на супстратот, следејќи точно про­­пишана процедура, и AFM-иглата. Исто така, доколку постоечката конфигурација се на­­догради со соодветни додатоци, би можеле да се изучуваат оптичките, електричните и маг­нетните својтва на површините на испитуваните примероци.


Одговорно лице за контакт

Проф. д-р Биљана Пејова

тел. 324-9922

е-пошта: biljana@pmf.ukim.mk